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创新券 SI ALD型原子层沉积系统

价格: 定制服务

检测机构名称:光电子集成芯片检测中心

累计服务时间:

基本信息

仪器中文名称: SI ALD型原子层沉积系统 仪器英文名称: ALD
产地国别(代码): 德国 仪器型号规格: SI-ALD
生产厂商: SENTECH Instruments GmbH 所在城市: 西安市
仪器原值(万元): 285.0 外部预约网址:
服务领域: 物理学 材料科学 电子、通信与自动控制技术 计算机科学技术 仪器/仪表/电气/器材 科学研究
主要技术指标: 加热(T-ALD)或等离子增强(PEALD)方式 通过周期性的原子层级化学反应实现沉积镀膜 原子层沉积氧化物和氮化物

单位信息

依托单位名称: 陕西光电子集成电路先导技术研究院有限责任公司 依托单位成立日期: 2015-10-29
依托单位电话: 81107655 机构名称: 光电子集成芯片检测中心
领域: 其他
单位简介: 光电子集成是将光学器件与传统集成电路相结合,用光传输代替电传输,极大地提升信息传输速度,是下一代信息技术的核心,是实现“宽带中国”、“互联网+”等国家战略的基础。 2015年10月西安光机所联合地方政府、高校、院所及企业共同发起成立国内首家“政-产-学-研-资-用-孵”相结合的光电子集成电路先导技术研究院有限责任公司(简称“先导院”),借鉴台湾工研院、比利时IMEC模式,建立以光电子集成为发展方向,集该领域科技资源统筹、战略智库规划、国际前沿产业化技术研究、高端创新创业人才引进、创业投资与孵化为一体的创新型机构,与美国IMT、台湾TOSA、中科院苏州纳米所等8家国内外机构建立战略合作关系,充分发挥“筑巢引凤”效应,构建“立足陕西、引领西北、辐射全国、服务军民融合与‘一带一路’战略的光电子产业聚集、培育、创新和示范基地”。

联系信息

业务联系人: 杜正国 业务联系人电话: 81107655
业务联系人手机: 18192126258

检测资质

检测能力

检测产品名称: GaN外延、芯片 检测项目名称: 外延、芯片光电特性及相关原材料电镜能谱分析
检测领域类型: 金属材料及其构件的力学性能检测、金相分析、失效分析、电镜分析、化学成分检测、无损探伤检测;

服务评价

  • 单位名称 评价内容 星级
机构信息 陕西光电子集成电路先导技术研究院有限责任公司
该机构仪器 39
该机构服务 49

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